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LED封装缺陷检测方法研究[2021-03-08 10:07:00]
? LED芯片封装缺陷检测方法是通过检测 LED支架回路光电流 间接实现的。 在具有不同磁芯结构的线圈的两端,由支架环的光电流激发的磁场是不同的 感生电动势大小 ; 对于具有不同磁芯结
LED封装缺陷检测方法研究[2021-03-08 08:37:31]
? 405 Not Allowed 405 Not Allowed Firewall 666 三:不同的磁芯结构可以实现LED封装缺陷的检测,但是检测信号的信噪比却大不相同。 从图5可以看出,虽然实验中的磁芯线圈具有不同的结构,但焊
    共1页/2条


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